Semiconductor/ IC Relatives

檢測項目：異物面積、尺寸量測

檢測項目：毛邊、破裂、座裂、偏心、橫紋等

檢測項目：尺寸量測

檢測項目：成形不良、重疊、破孔、刮傷等

檢測項目：邊緣切紋

檢測項目：裂紋

檢測項目：黃點、色澤不均、刮傷、漏底材

檢測項目：裂紋

檢測項目：刮痕、碰傷、汙點、針孔、雜質紋等

檢測項目：孔洞、缺角、玷汙、裂紋、變形等